改进型的双光束X射线测厚仪
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
一种改进型双光束X射线测厚仪，采用标准片代替以往的基准楔进行厚度设定，并能实现被测板材质补偿。该测厚仪中的前置放大器采用微电流放大器和对数放大器相结合的电路，实现偏差指示的线性化。同时在设定光束中设置适当的平衡片，使两束光束完全平衡。从而使之充分发挥了双光束测量方式稳定性高、噪音低的特点，用简单的电路和小的X射线强度，实现高精度的厚度测量。
基本信息
专利标题 ：
改进型的双光束X射线测厚仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN86209739.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1986-12-06
授权号 ：
CN86209739U
授权日 ：
1987-09-16
发明人 ：
余式正
申请人 ：
冶金工业部自动化研究所
申请人地址 ：
北京市丰台区北大地丰台路84号
代理机构 ：
冶金专利事务所
代理人 ：
常贵贞
优先权 ：
CN86209739.8
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
1992-09-30 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1988-03-30 ：
授权
1987-09-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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