一种X射线测厚仪稳定型控制柜
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摘要

本实用新型公开了一种X射线测厚仪稳定型控制柜,包括X射线测厚仪控制柜,所述X射线测厚仪控制柜的底端安装有第一连接座,所述第一底板的上方设有第一连接套,所述第一底板的上表面与X射线测厚仪控制柜的下表面相贴合,所述第一连接套通过螺栓与X射线测厚仪控制柜相固接,所述第一底板的下表面与第二连接套的顶端一体成型。该X射线测厚仪稳定型控制柜,在缓冲垫的作用下,有效降低震动对X射线测厚仪控制柜的影响,并通过第一支撑机构和第二支撑机构的作用下,使得弹簧产生弹性形变,进而进一步的对震动进行消减,以最大限度的降低震动对X射线测厚仪控制柜的影响,以保证X射线测厚仪控制柜的稳定性,使用方向简单,实用性强,便于推广。

基本信息
专利标题 :
一种X射线测厚仪稳定型控制柜
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021714702.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-17
授权号 :
CN212567318U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
赵国力
申请人 :
大连远诚科技有限公司
申请人地址 :
辽宁省大连市甘井子区国贸街8号1号楼C门
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021714702.3
主分类号 :
G01B15/02
IPC分类号 :
G01B15/02  H05G1/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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