一种X射线测厚仪探头固定装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种X射线测厚仪探头固定装置，包括底座与探头主体，所述底座上端面尾部位置设置有立板，所述立板上方设置有顶板，所述探头主体上方设置有圆顶盒，所述顶板下端面头部位置对应圆顶盒设置有安装圆槽，所述圆顶盒外圈两侧位置均设置有贴合直条，所述安装圆槽内壁两侧位置对应贴合直条设置有升降槽，所述贴合直条外侧端面顶部位置设置有可调节的固定块，所述升降槽内壁对应固定块设置有固定卡槽。本实用新型所述的一种X射线测厚仪探头固定装置，属于测厚仪领域，通过在圆顶盒外圈设置贴合直条以及固定块，并利用圆形底板调节固定块的位置，从而对探头进行固定，同时提升探头的拆装效率，方便进行检修维护。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线测厚仪探头固定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220128126.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-18
授权号 ：
CN216558801U
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
雷威
申请人 ：
玻尔兹曼（广州）科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市花都区芙蓉大道北73号厂房6
代理机构 ：
广东空格知识产权代理有限公司
代理人 ：
高海棠
优先权 ：
CN202220128126.7
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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