一种新型X射线测厚仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种新型X射线测厚仪,包括测厚仪、滑轨、传送带和连接架,所述测厚仪的底端滑动连接有滑轨,所述测厚仪的右端安装有传送带,所述传送带的底端与滑轨相固接,所述滑轨的左端安装有连接架,所述连接架的内部安装有调节机构。该新型X射线测厚仪,通过螺纹杆、轴承、转盘和螺纹块等的配合使用,方便板材位置的调节,进而提高整体机构的实用性,通过转杆、滑座、矩形架、第一皮带轮和第二皮带轮等的配合使用,增加板材的受力面积,防止板材在自身重力作用下发生形变,保证板材与测厚仪的垂直度,通过槽杆、挡板、弹簧和勾板等的配合使用,方便安装架与滑轨之间的连接,可以根据使用需求灵活进行安装和拆卸。
基本信息
专利标题 :
一种新型X射线测厚仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021768640.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-22
授权号 :
CN212674098U
授权日 :
2021-03-09
发明人 :
赵国力
申请人 :
大连远诚科技有限公司
申请人地址 :
辽宁省大连市甘井子区国贸街8号1号楼C门
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021768640.4
主分类号 :
G01B15/02
IPC分类号 :
G01B15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2021-03-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载