X射线测厚仪（AXL）
授权
摘要
1.本外观设计产品的名称：X射线测厚仪（AXL）。2.本外观设计产品的用途：用于测量X射线厚度。3.本外观设计产品的设计要点：在于产品的整体形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
基本信息
专利标题 ：
X射线测厚仪（AXL）
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202230190764.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-04-07
授权号 ：
CN307400922S
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
张苏晓
申请人 ：
苏州艾克瑞特仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市常熟市东南街道黄浦江路191-5号(二层)
代理机构 ：
苏州易朴知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
朱春红
优先权 ：
CN202230190764.7
主分类号 ：
10-04
IPC分类号 ：
10-04
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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