本实用新型公开了一种X射线镀层测厚仪，包括底盘，底盘上端一侧固定连接检测箱，底盘上端滑动连接移动平台，检测箱内上端固定连接X光射线管，检测箱上端一侧固定连接OCD相机，检测箱靠近X光射线管下端固定连接准直器，检测箱内一侧固定连接检测器，所诉检测箱上一侧固定连接若干控制键，检测箱上靠近控制键一侧设有拉把，本实用新型的结构简单实用，通过高压电激发X光射线管，从而产生X射线，X射线通过准直器聚焦在被测物体上，从而在被测物体上通过X射线荧光光谱被检测器吸收从而进行分析，通过计算得出被测物体的属性和构成，采用的X光射线能够对物体的结构和属性进行快速测量，加快效率，并且能够更加精细和精确。