X光金属镀层测厚仪

授权

摘要

本实用新型涉及一种X光金属镀层测厚仪，其包括盒体以及设置在盒体内部空间中的放置台，还包括：第一驱动组件、第二驱动组件与第三驱动组件，第一驱动组件设置在盒体内部空间的底面上，第一驱动组件用于驱动放置台、第二驱动组件以及第三驱动组件左右移动；第二驱动组件设置在第一驱动组件上，第二驱动组件用于驱动第三驱动组件以及放置台前后移动；第三驱动组件设置在第二驱动组件上，第三驱动组件用于驱动放置台上下移动。本实用新型具有能够更加方便将被测物品放置到放置台上的效果。

基本信息

专利标题：

X光金属镀层测厚仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922322188.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-21

授权号：

CN210773950U

授权日：

2020-06-16

发明人：

林铭

申请人：

深圳市鑫捷伟科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市南山区西丽街道文光村45号文光丽景大厦1202

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201922322188.2

主分类号：

G01B15/02

IPC分类号：

G01B15/02