用于氧化铝镀膜生产的新型X荧光测厚仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于氧化铝镀膜生产的新型X荧光测厚仪，包括支架，支架设有上横梁与下横梁，上横梁与下横梁之间形成操作腔，上横梁上设有操作台，上横梁台面设有处理器，上横梁与操作台内设有上升降机，上升降机顶部设有X射线接收器，底部连接上升降杆，上升降杆底部设有滤光片，下横梁上设有下升降机，下升降机上连接下升降杆，下升降杆顶部设有滤光片，上下升降杆上的滤光片相对设置，支架上横梁内设有滑槽，滑槽内设有移动座，移动座下通过升缩杆连接上料盘。本实用新型结构设置合理，装置操作方便，使用便捷，上料方便，料材定位方便、准确，提高操作效率。
基本信息
专利标题 ：
用于氧化铝镀膜生产的新型X荧光测厚仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022168219.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-28
授权号 ：
CN213301135U
授权日 ：
2021-05-28
发明人 ：
周兴
申请人 ：
启东申通电子机械配件有限公司
申请人地址 ：
江苏省南通市启东市汇龙镇新洪南路99号
代理机构 ：
南京正联知识产权代理有限公司
代理人 ：
蒯建伟
优先权 ：
CN202022168219.6
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2021-05-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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