一种基于X射线荧光分析技术的元素录井仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种基于X射线荧光分析技术的元素录井仪,包括检测主机和真空泵,检测主机包括壳体,真空泵可通过管线与检测主机壳体上的快插接头连接,在壳体内靠近前面板的位置安装真空腔,该真空腔通过真空过滤器与壳体上的快插接头相通,在真空腔的两侧各安装一个滑轨,在壳体的前面板上设置腔门,该腔门与真空腔之间通过上述的两个滑轨相连接,在腔门的内侧安装驱动轴竖直向上的电机,在电机的驱动轴上安装样品托盘,在真空腔的顶部安装与真空腔相通的X射线管和探测器。本实用新型所公开的元素录井仪,通过电机带动样品托盘及其上的样品旋转,将分析目标由点扩展为环,增加分析面积,对于不均匀的颗粒样品,分析结果更加准确。

基本信息
专利标题 :
一种基于X射线荧光分析技术的元素录井仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922459745.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-30
授权号 :
CN211697582U
授权日 :
2020-10-16
发明人 :
肖敬涛王永豪李炎峰郭凤云
申请人 :
中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所)
申请人地址 :
山东省青岛市城阳区仙山东路36号
代理机构 :
北京中济纬天专利代理有限公司
代理人 :
张晓
优先权 :
CN201922459745.5
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  G01N23/2204  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-10-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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