一种X射线元素录井仪
授权
摘要
本实用新型涉及录井仪器领域，具体为一种X射线元素录井仪，包括真空腔，真空腔内部设有样品架，真空腔开设有供样品架水平移动的弧形槽，弧形槽中设有平行于样品架水平移动方向且用于水平支承样品架的直杆，直杆一端固定连接真空腔，且直杆另一端贯穿样品架后固定连接用于阻挡样品架从直杆滑脱的限位板，样品架开设有供限位板水平移动的通槽，样品架上固定设有定位柱，定位柱套设有样品座，样品座上设有夹具。本实用新型中样品架和承载夹具的样品座采用分体式安装，无需在样品架上调整夹具，并通过直杆和限位板对样品架水平限位支承，确保样品架可以平稳水平滑出真空腔，满足录井现场高频率的检测要求。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线元素录井仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020906212.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-26
授权号 ：
CN212111210U
授权日 ：
2020-12-08
发明人 ：
李友双
申请人 ：
奥意尔（天津）科技发展有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区经济技术开发区黄海路276号泰达中小企业园2号楼356号
代理机构 ：
天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
邓琳
优先权 ：
CN202020906212.7
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-12-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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