X射线离线分析仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种X射线离线分析仪,包括射线分析仪本体和设置在射线分析仪外部的防护壳,防护壳的内腔位于射线分析仪本体的两侧分别相对设置有对射线分析仪本体进行减震的弹性组件,弹性组件包括活动板和若干个抵紧弹簧,若干个抵紧弹簧分别等距设置在活动板远离射线分析仪本体的一侧。本实用新型一种X射线离线分析仪,在不使用时把射线分析仪本体置于防护壳内,能够起到防尘作用,当射线分析仪本体受到碰撞从工作台上脱落时,射线分析仪本体晃动会给两个活动板一定的作用力,在抵紧弹簧的弹性作用下,能够对射线分析仪本体起到缓冲作用,降低对射线分析仪本体的冲击力,减小对射线分析仪本体的损坏。

基本信息
专利标题 :
X射线离线分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922371221.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-25
授权号 :
CN211426337U
授权日 :
2020-09-04
发明人 :
周俊薄莉
申请人 :
徐州微科仪器设备有限公司
申请人地址 :
江苏省徐州市泉山区学苑路26号江苏建筑职业技术学院大学科技园6号楼116室
代理机构 :
徐州创荣知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
晏荣府
优先权 :
CN201922371221.0
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-09-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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