用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置

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摘要

本实用新型涉及一种用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，涉及熔融制样装置，旨在解决人工取出铂金坩埚时可能被灼伤的问题，其包括XRF高频熔样炉，所述XRF高频熔样炉设置有熔融区，所述熔融区内设置有多个呈矩形排列的熔融炉，所述熔融区内设置有隔热机构，所述隔热机构包括隔热板，所述隔热板在竖直方向上横置于熔融炉上侧；所述隔热板背离显示屏的一端侧均置有两根滑动杆，两根所述滑动杆一端固定于隔热板，其另一端贯穿并滑动连接于XRF高频熔样炉的箱壁，所述滑动杆远离XRF高频熔样炉的一端设置有推拉杆，所述推拉杆的两端分别固定于两根滑动杆。本实用新型可降低工作人员在取出铂金坩埚时被灼伤的几率，使用效果相对更佳。

基本信息

专利标题：

用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020301420.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-10

授权号：

CN211718165U

授权日：

2020-10-20

发明人：

马兵兵徐阳李科建廖俊梅卜云磊

申请人：

重庆岩土工程检测中心有限公司

申请人地址：

重庆市北碚区蔡家岗镇同德路12号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202020301420.4

主分类号：

G01N23/2202

IPC分类号：

G01N23/2202