镓中杂质元素的分析方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明为镓中杂质元素的分析方法，用盐酸、硝酸部分溶解主体镓，使镓中杂质元素富集在残余镓中，再将残余镓完全溶解，用小体积异丙醚萃取除嫁，水相进行原子发射光谱溶液残渣法测定。本法节省有机试剂，空白值低，灵敏度高，手续简便准确，测定范围宽。取样0.5克其测定范围分别为：汞、铂6×10-6～2×10-4％，铅、钴1×10-8～2×10-4％，镍、鉍、锡、钯、铟4×10-7～2×10-4％，铜、银4×10-8～2×10-5％。
基本信息
专利标题 ：
镓中杂质元素的分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1031762A
申请号 ：
CN87105895.2
公开（公告）日 ：
1989-03-15
申请日 ：
1987-09-01
授权号 ：
CN1012629B
授权日 ：
1991-05-15
发明人 ：
陈家英钟秀霞
申请人 ：
北京有色金属研究总院
申请人地址 ：
北京市新街口外大街2号
代理机构 ：
北京市第三专利代理事务所
代理人 ：
母宗绪
优先权 ：
CN87105895.2
主分类号 ：
G01N21/00
IPC分类号 ：
G01N21/00 G01N1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
法律状态
1997-10-22 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-01-01 ：
授权
1991-05-15 ：
审定
1990-03-14 ：
实质审查请求
1989-03-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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