X荧光光谱和红外光谱法联用测定塑料中溴锑元素的方法
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摘要
本发明提供了一种X荧光光谱和红外光谱法联用测定塑料中溴锑元素的方法,包括利用X射线荧光光谱法同时测定塑料中的溴元素和锑元素的含量后,再利用红外光谱分析法测定校核锑元素含量的步骤。本发明所述的X荧光光谱和红外光谱法联用测定塑料中溴锑元素的方法,可同时测量锑元素和溴元素,且锑元素测量准确,测定快速,且不损坏试样。
基本信息
专利标题 :
X荧光光谱和红外光谱法联用测定塑料中溴锑元素的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109596654A
申请号 :
CN201811447722.6
公开(公告)日 :
2019-04-09
申请日 :
2018-11-29
授权号 :
CN109596654B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
马哲宋翠翠杜荣华
申请人 :
天津金发新材料有限公司
申请人地址 :
天津市滨海新区空港经济区纬七道1号
代理机构 :
天津滨海科纬知识产权代理有限公司
代理人 :
杨慧玲
优先权 :
CN201811447722.6
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223 G01N23/2202 G01N21/3563
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-04-05 :
授权
2019-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20181129
申请日 : 20181129
2019-04-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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