用于同定型X荧光光谱仪的固定元素道分光器
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种用于同定型X荧光光谱仪的固定元素道分光器,它包括入射管组件、分光盒组件、出射管组件,所述的分光盒组件内并排设置有两组平晶组件,所述的出射管组件为与所述的平晶组件相对应的两组;两组所述的平晶组件及出射管组件构成两条独立的衍射光路,每条所述的衍射光路中,入射角和出射角相等。上述分光器,在体积增加不多的情况下,使得分光器相比现有的分光器具有两倍的分光能力;采用直晶分光,成本较低,降低整个分光器的成本;每两组平晶晶体,仅采用一组入射管组件,充分利用分光器空间,结构紧凑、成本降低。

基本信息
专利标题 :
用于同定型X荧光光谱仪的固定元素道分光器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820041390.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-08-15
授权号 :
CN201285378Y
授权日 :
2009-08-05
发明人 :
应刚余正东高华
申请人 :
江苏天瑞仪器股份有限公司
申请人地址 :
215347江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦
代理机构 :
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 :
孙仿卫
优先权 :
CN200820041390.7
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  G01N23/207  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2017-10-10 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101751608713
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2008200413907
申请日 : 20080815
授权公告日 : 20090805
终止日期 : 20160815
2009-08-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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