一种多元素同时测定型X荧光光谱分析仪
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种多元素同时测定型X荧光光谱分析仪,它包括X光管及X射线发生装置、若干个固定元素道分光器、真空测量室和抽真空系统、自动控制系统、探测器、元素特征X射线谱峰检测装置以及上位PC计算机;所述元素特征X射线谱峰检测装置包括有至少一块多路MCA卡板和一本机控制计算机,该多路MCA卡板的电路在本机控制计算机的控制下实时采集来自多个探测器的脉冲信号,并进行模数变换,将脉冲高度变换成数字量后通过本机控制计算机将谱峰数据传送给上位PC计算机。与传统的仪器相比,本实用新型可以实现各元素道谱峰的全谱实时检测,不仅极大的方便了仪器的调试、性能检验和故障诊断,而且有利于提高仪器的稳定性和可靠性。
基本信息
专利标题 :
一种多元素同时测定型X荧光光谱分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620134101.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-10-18
授权号 :
CN200968940Y
授权日 :
2007-10-31
发明人 :
刘小东白友兆陈式经杨李锋
申请人 :
北京邦鑫伟业技术开发有限公司
申请人地址 :
102200北京市昌平区科技园区超前路37号4号楼5层南区
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
鲁兵
优先权 :
CN200620134101.9
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2017-01-25 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101699580998
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2006201341019
申请日 : 20061018
授权公告日 : 20071031
终止日期 : 20151018
号牌文件序号 : 101699580998
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2006201341019
申请日 : 20061018
授权公告日 : 20071031
终止日期 : 20151018
2009-05-13 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
变更事项 : 专利权人
变更前 : 江苏天瑞信息技术有限公司
变更后 : 江苏天瑞仪器股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦,邮编 : 215001
变更后 : 江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦,邮编 : 215001
变更前 : 江苏天瑞信息技术有限公司
变更后 : 江苏天瑞仪器股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦,邮编 : 215001
变更后 : 江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦,邮编 : 215001
2008-11-12 :
专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 北京邦鑫伟业技术开发有限公司
变更后权利人 : 江苏天瑞信息技术有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 北京市昌平区科技园区超前路37号4号楼5层南区,邮编 : 102200
变更后 : 江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦,邮编 : 215001
登记生效日 : 20081010
变更前权利人 : 北京邦鑫伟业技术开发有限公司
变更后权利人 : 江苏天瑞信息技术有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 北京市昌平区科技园区超前路37号4号楼5层南区,邮编 : 102200
变更后 : 江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦,邮编 : 215001
登记生效日 : 20081010
2007-10-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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