相对荧光强度测定方法
专利申请的视为撤回
摘要
本发明涉及对荧光光谱分析方法的一种改进。以不同峰、谷的荧光强度之差，即相对荧光强度，作为测定指标，可方便地提高分析、鉴别效果。在纸币鉴别中，可以使部分漏检的伪币得以检出。
基本信息
专利标题 ：
相对荧光强度测定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1089722A
申请号 ：
CN92114572.1
公开（公告）日 ：
1994-07-20
申请日 ：
1992-12-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李杰生
申请人 ：
交通银行重庆分行;中国重庆国际经济技术合作公司
申请人地址 ：
630010四川省重庆市中区人民路13号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN92114572.1
主分类号 ：
G01J3/457
IPC分类号 ：
G01J3/457 G07D7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/457
相关光谱法，例如强度的
法律状态
1996-04-03 ：
专利申请的视为撤回
1994-07-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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