利用表面张力装置的荧光测定方法

专利权的终止

摘要

本发明描述了用于测定纳米滴样品荧光的装置和方法，其中，样品被表面张力保持在两个砧台表面(20，24)之间。每个砧台表面(20，24)具有嵌入式光纤(18)，该光纤的端部与被样品润湿的容纳区域中的表面齐平，并与光纤(18)成直线。从远离容纳区域的样品一侧提供样品激发。通过选择光纤传输数字孔，可以最小化激发光和环境光对测定的影响。提出了一种虚拟滤光的方法，其中通过从测定中减去光源的按比例缩放的表示来校正影响测定传感器的任何环境光或激发光。该方法和装置能够探测1微升TE缓冲剂中的微量荧光素纳的荧光。

基本信息

专利标题：

利用表面张力装置的荧光测定方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101180497A

申请号：

CN200680004661.5

公开（公告）日：

2008-05-14

申请日：

2006-02-09

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

查尔斯·威廉·罗伯逊乔尔·布鲁斯·汉森

申请人：

纳米微滴技术公司

申请人地址：

美国特拉华州

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司

代理人：

章社杲

优先权：

CN200680004661.5

主分类号：

F21V9/16

IPC分类号：

F21V9/16