使用毛细管透镜的X射线荧光分析仪
专利权的终止
摘要
一种使用X射线透镜(毛细管透镜)来平行X射线的X射线荧光分析仪。本X射线荧光分析仪,包括电源、X射线激发装置、X射线探测器、信号处理装置和计算机,在X射线激发装置与被测样品之间设有X射线毛细管透镜,将从X射线激发装置出射X射线的会聚使成为平行微束。X光光管发射的X射线有较大的立体角,通过毛细管透镜,使其成为平行微束。一方面一定程度上会聚X射线能量,提高了束斑的功率密度,相对减小了X光源功率;另一方面由于X射线微平行,能够使物体与光源和探测器的距离不敏感,可以测定样品内元素的空间分布;而且由于X射线透镜可以减小高能X射线散射造成的本底,提高了信噪比,从而提高了仪器的探测极限。
基本信息
专利标题 :
使用毛细管透镜的X射线荧光分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620048726.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-12-08
授权号 :
CN200989888Y
授权日 :
2007-12-12
发明人 :
韩申生文成
申请人 :
上海酷健坊机电科技发展有限公司
申请人地址 :
201702上海市青浦徐泾镇华徐公路289号
代理机构 :
上海光华专利事务所
代理人 :
余明伟
优先权 :
CN200620048726.3
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2016-01-27 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101644353157
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2006200487263
申请日 : 20061208
授权公告日 : 20071212
终止日期 : 20141208
号牌文件序号 : 101644353157
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2006200487263
申请日 : 20061208
授权公告日 : 20071212
终止日期 : 20141208
2008-09-24 :
专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 上海酷健坊机电科技发展有限公司
变更后权利人 : 上海锐毕利机电科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 上海市青浦徐泾镇华徐公路289号,邮编 : 201702
变更后 : 上海市青浦区华徐路289号,邮编 : 201702
登记生效日 : 20080815
变更前权利人 : 上海酷健坊机电科技发展有限公司
变更后权利人 : 上海锐毕利机电科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 上海市青浦徐泾镇华徐公路289号,邮编 : 201702
变更后 : 上海市青浦区华徐路289号,邮编 : 201702
登记生效日 : 20080815
2007-12-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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