开放式X射线荧光分析仪用便携检测支架
授权
摘要
本实用新型公开了开放式X射线荧光分析仪用便携检测支架，属于检测仪器技术领域。开放式X射线荧光分析仪用便携检测支架，包括支撑板，还包括：多个圆周分布的伸缩杆，均转动安装在所述支撑板的下端四周；滑槽，设置在所述支撑板的上端，其中，所述支撑板上滑动连接有两个对称设置的滑动座，所述支撑板的下端转动连接有转杆，所述滑槽内设有与转杆以及两个滑动座连接的夹紧机构；转动块，转动连接在所述转杆的外壁，其中，多个所述伸缩杆与转动块之间均通过角度调节机构连接；本实用新型可以使X射线荧光分析仪在使用时更加的稳定，进而间接提升了X射线荧光分析仪的检测精度。
基本信息
专利标题 ：
开放式X射线荧光分析仪用便携检测支架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122689500.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-05
授权号 ：
CN216566851U
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
李强穆潇
申请人 ：
中科光电科技（威海）有限责任公司
申请人地址 ：
山东省威海市文化中路81号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122689500.9
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-05-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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