X射线分析装置

专利权的终止

摘要

本发明的Ｘ射线分析装置其特征在于，设有在对正比计数管输出的脉冲进行脉冲幅度甄别的主脉冲幅度甄别器的道域宽度内形成其甄别道域宽度的副脉冲幅度甄别器，控制正比计数管的驱动电源使该副脉冲幅度甄别器的计数率为规定值。Ｘ射线分析时对正比计数管输出的脉冲进行脉冲幅度甄别的主脉冲幅度甄别器的道域宽度根据所测试的Ｘ射线波长设定得较窄，且样品测定时可实时地检出测定输出的峰移（能级位移）并进行测定输出的补偿，因而能提高分析精度，其构造也简单。

基本信息

专利标题：

X射线分析装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1064549A

申请号：

CN91110553.0

公开（公告）日：

1992-09-16

申请日：

1991-10-30

授权号：

CN1041238C

授权日：

1998-12-16

发明人：

河合政夫

申请人：

株式会社岛津制作所

申请人地址：

日本国京都市

代理机构：

上海专利商标事务所

代理人：

颜承根

优先权：

CN91110553.0

主分类号：

G01T1/18

IPC分类号：

G01T1/18