聚焦X光衍射计
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
一种用于测定晶体物质结构的，按西曼—博林(Seeman-BOhlin)原理设计的聚焦X光衍射计，其特征是具有一套三齿轮系统(中心轮固定)，由一个电机—减速器驱动，结构简单。
基本信息
专利标题 ：
聚焦X光衍射计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN85200025.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85200025U
授权日 ：
1985-10-10
发明人 ：
汪泓宏
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
张善余
优先权 ：
CN85200025.1
主分类号 ：
G01N23/207
IPC分类号 ：
G01N23/207
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射，例如，利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
1991-12-25 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1986-03-19 ：
授权
1985-10-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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