Ｘ射线衍射仪多功能样品台检测装置
授权
摘要
本实用新型公开一种X射线衍射仪多功能样品台检测装置，安装在测角仪上，包括样品台旋转单元、样品台升降单元、样品台倾斜单元、样品台连接板以及样品盒，其中样品盒设于样品台旋转单元的旋转轴套上方，样品台旋转单元安装在样品台升降单元的升降导轨上的滑块和推力球轴承上，样品台升降单元安装在样品台倾斜单元的倾斜蜗轮上，样品台倾斜单元通过样品台连接板安装于测角仪上。本实用新型功能多样、体积小巧、结构简单、性能稳定，从根本上解决了对要检测的零部件进行各个位置的移动，结构设计都大大的减小了空间，并且提高了传动效率，适于广泛推广。
基本信息
专利标题 ：
Ｘ射线衍射仪多功能样品台检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921448019.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-03
授权号 ：
CN210639108U
授权日 ：
2020-05-29
发明人 ：
刘元元李亚飞陈东李丽韩雨辰
申请人 ：
丹东浩元仪器有限公司
申请人地址 ：
辽宁省丹东市振兴区洋河大街105号
代理机构 ：
沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李晓光
优先权 ：
CN201921448019.7
主分类号 ：
G01N23/20008
IPC分类号 ：
G01N23/20008 G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
法律状态
2020-05-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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