一种衍射仪用透射模式型多位样品台
授权
摘要

本实用新型公开一种衍射仪用透射模式型多位样品台,包括用于装载样品的样品单元、用于固定若干样品单元的多位样品架和与多位样品架底部连接的支撑部;样品单元与X射线照射方向垂直,多位样品架上开设有若干个U型插槽,单个样品单元可拆卸地固定在U型插槽内。通过采用多位样品架与X射线照射方向垂直设置,且多位样品架上安装有若干个样品单元的结构设计,利用驱动机构驱动多位样品安装板在与X射线照射方向垂直的方向上运动,可实现快速切换不同的样品单元接收X射线的照射,无需在单个样品单元检测完成后,手动更换样品单元,节省了更换时间,大大提高了针对大量待测样品时的检测效率。

基本信息
专利标题 :
一种衍射仪用透射模式型多位样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123093130.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-10
授权号 :
CN216449465U
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
张吉东孟圣斐宋新月
申请人 :
苏州锂影科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴江区东太湖生态旅游度假区(太湖新城)简村路100号苏州湾智慧信息产业园17层1701室06号工位(集群登记)
代理机构 :
北京高沃律师事务所
代理人 :
李胜强
优先权 :
CN202123093130.9
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2022-05-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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