一种自动换样品的X-衍射仪
授权
摘要
本实用新型提供一种自动换样品的X‑衍射仪，包括衍射仪本体，所述衍射仪本体一侧可拆卸连接箱门；所述衍射仪本体内壁一侧设有收缩夹具，所述收缩夹具对应可拆卸连接样品，其另一侧设有样品架，所述衍射仪本体内侧底部设有移动装置，所述移动装置上方设有转动式夹具，所述转动式夹具对应可拆卸连接所述收缩夹具和所述样品架上的样品。本实用新型通过在衍射仪本体内部设置有收缩夹具、移动装置和转动式夹具，利用多工具的配合来实现对应的自动更换样品。
基本信息
专利标题 ：
一种自动换样品的X-衍射仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022375726.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-22
授权号 ：
CN215005069U
授权日 ：
2021-12-03
发明人 ：
王莹李蕊
申请人 ：
上海晓创检测技术有限公司
申请人地址 ：
上海市奉贤区庄行镇安东路309号第23幢5层
代理机构 ：
上海微策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张静
优先权 ：
CN202022375726.7
主分类号 ：
G01N23/20025
IPC分类号 ：
G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2021-12-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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