一种X衍射超重样品支架
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摘要
一种X衍射超重样品支架属于大型仪器测试领域，包括样品架部分、升降台部分；样品架部分包含第一立柱(1)、第二立柱(2)、第三立柱(3)和样品托板(4)；第一立柱(1)、第二立柱(2)、第三立柱(3)等高，且第一立柱位于第二立柱(2)、第三立柱(3)之间连线的中垂线上；三者顶面构成一个平行于水平面的平面，三者粘接或焊接在同一样品托板上；样品下面放置有橡皮泥，使样品待测面与光斑重合；升降台部分由螺母(5)、螺杆(6)、支撑架(7)、底座(8)组成；能够带动螺杆(6)转动的螺母(5)套于螺杆(6)的一端，能带动支撑架(7)上下运动的螺杆(6)位于支撑架(7)上；或者升降台部分采用多级液压式升降台。
基本信息
专利标题 ：
一种X衍射超重样品支架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921066209.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-09
授权号 ：
CN210803335U
授权日 ：
2020-06-19
发明人 ：
汤云晖
申请人 ：
北京工业大学
申请人地址 ：
北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 ：
北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘萍
优先权 ：
CN201921066209.2
主分类号 ：
G01N23/20025
IPC分类号 ：
G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2020-06-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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