用于探测测试访问点结构的扭转夹具探头的方法和装置

发明专利申请公布后的视为撤回

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摘要

本发明公开了一种用于探测测试访问点结构的扭转夹具探头的方法和装置，该扭转夹具探头用于从焊珠探头的表面清除氧化物、残余物或其他污染物，并在电路内测试过程中探测印刷电路板上的焊珠探头。

基本信息

专利标题：

用于探测测试访问点结构的扭转夹具探头的方法和装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1834679A

申请号：

CN200610001464.X

公开（公告）日：

2006-09-20

申请日：

2006-01-17

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

肯尼思·P·帕克克里斯·R·雅各布森

申请人：

安捷伦科技有限公司

申请人地址：

美国加利福尼亚州

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司

代理人：

柳春雷

优先权：

CN200610001464.X

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R31/00 H01L21/66

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/28

•电路的测试，例如用信号故障寻测器

法律状态

2011-01-05 ：

发明专利申请公布后的视为撤回

号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101058492602
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利申请号 : 200610001464X
公开日 : 20060920

2008-04-30 ：

实质审查的生效

2006-09-20 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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