并接烧录测试系统
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明是关于一种并接烧录测试系统，经由一操控电路板与受控电路板间的沟通，实时呈现各连接埠的状态，设备与操作手段相对简化，且机台本身的扩充弹性极大，让操作人员仅需面对单一机台，可以容许批次作业而能符合大量生产的需求。
基本信息
专利标题 ：
并接烧录测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101008665A
申请号 ：
CN200610007179.9
公开（公告）日 ：
2007-08-01
申请日 ：
2006-01-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
彭国展
申请人 ：
诚瑞科技股份有限公司
申请人地址 ：
台湾省台北县中和市建康路130号4楼之8
代理机构 ：
上海开祺知识产权代理有限公司
代理人 ：
高毓秋
优先权 ：
CN200610007179.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 H01L21/66 H01L27/10
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2009-09-09 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-09-26 ：
实质审查的生效
2007-08-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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