微电子器件的重要参数的确认方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种微电子器件的重要参数的确认方法，主要包括两个C++模块：第一个模块是input modular，主要负责对自动测试系统/实验数据的录入和显著性标志的求得，并确保原始数据满足规定的形式和要求；第二个模块是数据处理模块是data handing modular，主要负责对数据矩阵的初次变换和对初次变换后的数据矩阵的处理。优点是：能够准确迅速的判断出微电子的重要参数。能对具有不同的量值范围或不同度量衡范围的微电子器件参数的重要性进行确认。是微电子测试领域和分析领域的一种崭新的技术，其使用对不同的量值范围或不同度量衡的数据都有效。而对原始数据的获得方式无关。并且算法容易编程和实现。
基本信息
专利标题 ：
微电子器件的重要参数的确认方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101017187A
申请号 ：
CN200610018328.1
公开（公告）日 ：
2007-08-15
申请日 ：
2006-02-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
沈森祖石坚夏强民
申请人 ：
中国船舶重工集团公司第七○九研究所
申请人地址 ：
430074湖北省武汉市洪山区珞瑜路718号
代理机构 ：
武汉金堂专利事务所
代理人 ：
胡清堂
优先权 ：
CN200610018328.1
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2009-08-12 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-10-10 ：
实质审查的生效
2007-08-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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