测试卡
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明公开一种用以对系统进行负载测试的测试卡,其主要包括一印刷电路板、设置于其上用于与插槽进行电性连接的金手指、与金手指连接的开关以及若干个并联电阻组;其中,所述并联电阻组的一端是与开关相连,另一端连接于地。通过切换所述开关的开与关,来达到对所需负载进行自行切换,而对系统进行功耗测试。该种测试方式中,是将功率消耗分布在较多的电阻上,既可将热平均分散,也可避免组件过热。本发明所述测试卡结构简单,易实现,具有较佳的实用价值。

基本信息
专利标题 :
测试卡
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101042667A
申请号 :
CN200610034410.3
公开(公告)日 :
2007-09-26
申请日 :
2006-03-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
林诗窈陈文宾
申请人 :
佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神达电脑股份有限公司
申请人地址 :
528308广东省佛山市顺德区伦教街道顺达路一号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200610034410.3
主分类号 :
G06F11/267
IPC分类号 :
G06F11/267  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
G06F11/26
功能检验
G06F11/267
用于检验的再组合电路,例如,LSSD、分离
法律状态
2009-03-11 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-11-21 :
实质审查的生效
2007-09-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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