一种可测试处理器系统(10、20)，包括多个模块(11、12、...、1n)，每一个模块(11)包括处理器单元(110)和调试控制器(111)，所述调试控制器与公共测试访问点控制器(TAP控制器20)相连，其中，所述调试控制器具有测试数据输入端(Tin)和测试数据输出端(Tout)以及至少一个测试寄存器(112、113)，所述调试控制器(111、121、131、...、1n1)的测试数据输入端和输出端被设置在扫描链中，所述扫描链具有用于从所述TAP控制器接收测试输入数据的输入端(TDI)以及用于向所述TAP控制器提供测试输出数据的输出端(TDO)，至少一个调试控制器(111)具有选择工具(115)，所述选择工具(115)能够使扫描链中的数据移过所述调试控制器(111)的至少一个测试寄存器(112)，或立即从所述调试控制器的测试数据输入端转送到测试数据输出端；至少一个调试控制器具有对所述选择工具进行控制的旁路寄存器(117)，而且TAP