X射线检测器的障板、计算机断层造影设备及调节障板的方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明涉及一种用于包括检测器元件(6，6.1至6.19)的X射线检测器(5)的障板(20，30，40，50，70)，优选用于计算机断层造影设备(1)。其具有带分别对应于每个检测器元件(6)的多个孔(19)的掩模板(18)，其中，该掩模板(18)的至少一个调节孔(22至29，41至44，51至54，81至86)具有与至少两个检测器元件(6.1至6.19)的大小相匹配的放大尺寸。调节孔用于在X射线检测器(5)之上调节障板。在采用X射线放射的情况下确定至少对应于一个调节孔的检测器元件(6.1至6.19)的测量信号。基于对检测器测量信号的比较来相对地调节障板和X射线检测器。
基本信息
专利标题 ：
X射线检测器的障板、计算机断层造影设备及调节障板的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1828334A
申请号 ：
CN200610055072.1
公开（公告）日 ：
2006-09-06
申请日 ：
2006-03-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
克劳斯·波汉马里奥·莱因旺德卡尔·斯蒂尔斯托弗
申请人 ：
西门子公司
申请人地址 ：
德国慕尼黑
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
邵亚丽
优先权 ：
CN200610055072.1
主分类号 ：
G01T7/00
IPC分类号 ：
G01T7/00 G01T1/16 A61B6/03 G21K1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2008-12-03 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-09-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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