珠宝内部结构检测方法及其装置
发明专利申请公布后的驳回
摘要

一种珠宝内部结构检测方法,包括将时间相干性低的光源发出的光通过分光器件分为第一光束和第二光束,第一光束和第二光束分别照射至一个固定有待测珠宝的样器臂和一个产生光程变化且可反射光的参考臂;调整光程,使得经参考臂的反射光及样器臂待测珠宝的反射光发生干涉,产生干涉信号;将干涉信号转化为与其相对应的电信号;并将电信号传输至信号处理分析器;改变参考臂光程,得到珠宝层纵深方向的一维反射光强信号;以及对待测珠宝进行扫描,得到待测珠宝二维内部结构光学切片图像的步骤,本发明利用光学干涉原理,将很弱的珠宝内部的背向散射光与较强的参考光产生干涉,通过探测干涉光信号来探测珠宝内部的结构,大大提高了检测信噪比和灵敏度。

基本信息
专利标题 :
珠宝内部结构检测方法及其装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1815192A
申请号 :
CN200610057546.6
公开(公告)日 :
2006-08-09
申请日 :
2006-03-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王辉何永红马辉
申请人 :
王辉;何永红;马辉
申请人地址 :
518000广东省深圳市宝安区新安湖花园新昆阁1706
代理机构 :
北京英特普罗知识产权代理有限公司
代理人 :
齐永红
优先权 :
CN200610057546.6
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  G01N21/84  G01B11/06  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2012-02-01 :
发明专利申请公布后的驳回
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101274723898
IPC(主分类) : G01N 21/45
专利申请号 : 2006100575466
公开日 : 20060809
2006-10-04 :
实质审查的生效
2006-08-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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