一种珠宝内部结构检测装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明适用于珠宝内部结构检测技术,提供了一种非接触型珠宝内部结构检测装置,包括光源组件、分光器、参考臂反射镜、光电探测器、信号处理分析器、参考臂反射镜扫描装置以及样器臂光束扫描装置,其中,参考臂反射镜固定在可往复移动的参考臂反射镜扫描装置上,光源组件与分光器输入端之间、分光器两个输出端与参考臂反射镜和待测珠宝之间、分光器的干涉光输出端与光电探测器之间均采用光学连接,光电探测器输出端连接电信号处理分析器。本发明利用光学干涉原理,将很弱的珠宝内部结构的背向散射光与较强的参考光产生干涉,通过探测干涉光信号来探测珠宝内部的结构,大大提高了检测信噪比和灵敏度。

基本信息
专利标题 :
一种珠宝内部结构检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN102183491A
申请号 :
CN201110046369.2
公开(公告)日 :
2011-09-14
申请日 :
2006-03-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王辉何永红马辉
申请人 :
王辉;何永红;马辉
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区新安湖花园新昆阁1706
代理机构 :
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
何青瓦
优先权 :
CN201110046369.2
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  G01B11/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2014-10-08 :
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101705825330
IPC(主分类) : G01N 21/45
专利申请号 : 2011100463692
申请公布日 : 20110914
2011-11-02 :
实质审查的生效
号牌文件类型代码 : 1604
号牌文件序号 : 101127318676
IPC(主分类) : G01N 21/45
专利申请号 : 2011100463692
申请日 : 20060314
2011-09-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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