于读取缺陷碟片信号时锁相回路的保护方法及装置
授权
摘要
本发明提供一种锁相回路保护装置，用以保护一锁相回路于读取缺陷碟片时不被干扰，该锁相回路保护装置包含一缺陷检测装置以及一逻辑组合单元。缺陷检测装置用以接收多个缺陷检测信号以设置多个缺陷旗标信号，其中该多个缺陷检测信号至少包含一射频信号的一封包信号以及位元调变信号。逻辑组合单元用以对该多个缺陷旗标信号执行一逻辑运算以检测一特定缺陷。其中当检测到该特定缺陷时，锁相回路使用不同频宽以补偿一受该特定缺陷所影响的数字化的射频信号。本发明亦提出一种锁相回路保护方法。
基本信息
专利标题 ：
于读取缺陷碟片信号时锁相回路的保护方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1835111A
申请号 ：
CN200610058856.X
公开（公告）日 ：
2006-09-20
申请日 ：
2006-03-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赖义麟湛益淞
申请人 ：
威盛电子股份有限公司
申请人地址 ：
台湾省台北县新店市中正路535号8楼
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈亮
优先权 ：
CN200610058856.X
主分类号 ：
G11B20/18
IPC分类号 ：
G11B20/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11B
基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储
G11B20/00
并非专指记录或重现方法的信号处理；为此所用的电路
G11B20/10
数字记录或重现
G11B20/18
错误的检测或校正；测试
法律状态
2009-03-11 ：
授权
2006-11-22 ：
实质审查的生效
2006-09-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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