用于测量和/或分析气体流内颗粒的系统及包括该系统的方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种用于测量和分析气体进料流内颗粒的系统及其方法。在一个方面，该系统包括并联排列的颗粒计数器和颗粒捕捉过滤器。在另一个方面，该系统包括净化装置以从气体进料流去除痕量分子杂质来减小存在的杂质。
基本信息
专利标题 ：
用于测量和/或分析气体流内颗粒的系统及包括该系统的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1818610A
申请号 ：
CN200610059229.8
公开（公告）日 ：
2006-08-16
申请日 ：
2006-02-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
W·T·麦克德莫特R·C·奥科维克D·V·罗思
申请人 ：
气体产品与化学公司
申请人地址 ：
美国宾夕法尼亚州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
邹雪梅
优先权 ：
CN200610059229.8
主分类号 ：
G01N15/00
IPC分类号 ：
G01N15/00 G01N15/12 G01N1/20 G01N1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2011-03-23 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101075511021
IPC(主分类) : G01N 15/00
专利申请号 : 2006100592298
公开日 : 20060816
号牌文件序号 : 101075511021
IPC(主分类) : G01N 15/00
专利申请号 : 2006100592298
公开日 : 20060816
2006-10-11 ：
实质审查的生效
2006-08-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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