气体分析仪和气体分析方法
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摘要
本发明涉及一种气体分析仪和气体分析方法，其中，至少两个不同的辐射源的射束耦入到一个包含测量气体的赫里奥特池中，并且在多次反射以后与其耦出并被探测到，其中，射束被定向成，使得它们以沿着椭圆延伸的光斑图案(20、21、22)投落到镜(例如5)上，其中：相互嵌套地位于一共同的对称轴线上的椭圆具有两个共同顶点(例如24)并且还具有不同的顶点；来自至少两个不同辐射源的射束在配属的光斑图案(20、21、22)的不同位置(29、30、31)处耦入到赫里奥特池中，并且/或者，耦入到赫里奥特池中，使得它们沿着椭圆在相反方向上经历配属的光斑图案(20、21、22)；并且所有的射束在其中一个共同的顶点(24)的位置处耦出。
基本信息
专利标题 ：
气体分析仪和气体分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110736713A
申请号 ：
CN201910657408.9
公开（公告）日 ：
2020-01-31
申请日 ：
2019-07-19
授权号 ：
CN110736713B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
西蒙尼·伊莎贝尔·鲁普
申请人 ：
西门子股份公司
申请人地址 ：
德国慕尼黑
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
张英
优先权 ：
CN201910657408.9
主分类号 ：
G01N21/3504
IPC分类号 ：
G01N21/3504 G01N21/01
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
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G01N21/31
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G01N21/35
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G01N21/3504
用于气体分析，例如复合气体分析
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-02-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/3504
申请日 : 20190719
申请日 : 20190719
2020-01-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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