气体分析仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种气体分析仪，在从光源出发经过气体容器至传感器的多条光路上都备有光阑孔；在各自的光路上还装有多层干涉带通滤光片，这种结构形式有可能用来改变每个传感器与相应的光阑孔之间的距离，或者变化该光阑孔的大小，为的是改变检测光对于干涉滤光片的最大入射角，从而改变于涉滤光片的透过率最大的波长。
基本信息
专利标题 ：
气体分析仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85104270A
申请号 ：
CN85104270.8
公开（公告）日 ：
1986-12-03
申请日 ：
1985-06-05
授权号 ：
CN85104270B
授权日 ：
1987-03-04
发明人 ：
青木润次小岛建之助
申请人 ：
株式会社堀场制作所
申请人地址 ：
日本京都府京都市
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
王彦斌
优先权 ：
CN85104270.8
主分类号 ：
G01N21/17
IPC分类号 ：
G01N21/17
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
1994-07-06 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1987-09-09 ：
授权
1987-03-04 ：
审定
1986-12-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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