测试载体数据分析
专利权的终止
摘要
一种用于通过至少两个不同的交叉测试路径识别各种电路模块从而收集并分析集成电路测试载体测试数据的系统和方法。在一个实施例中，工艺测试电路可以以阵列的方式排列和相互连接，这样可以沿行或列来对它们进行测试。当一个沿特定行与特定列的故障被识别时，在该交叉处的工艺测试电路可以被标识为故障点。
基本信息
专利标题 ：
测试载体数据分析
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1845300A
申请号 ：
CN200610059549.3
公开（公告）日 ：
2006-10-11
申请日 ：
2006-03-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
R·舒尔茨G·希普利D·艾尔曼
申请人 ：
LSI罗吉克公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
钱慰民
优先权 ：
CN200610059549.3
主分类号 ：
H01L21/00
IPC分类号 ：
H01L21/00 H01L21/66
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
法律状态
2018-03-27 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : H01L 21/00
申请日 : 20060306
授权公告日 : 20100414
终止日期 : 20170306
申请日 : 20060306
授权公告日 : 20100414
终止日期 : 20170306
2016-08-10 ：
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101736997405
IPC(主分类) : H01L 21/00
专利号 : ZL2006100595493
登记生效日 : 20160720
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : LSI罗吉克公司
变更后权利人 : LSI 公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国加利福尼亚州
变更后权利人 : 美国加利福尼亚州
号牌文件序号 : 101736997405
IPC(主分类) : H01L 21/00
专利号 : ZL2006100595493
登记生效日 : 20160720
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : LSI罗吉克公司
变更后权利人 : LSI 公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国加利福尼亚州
变更后权利人 : 美国加利福尼亚州
2016-08-10 ：
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101736997406
IPC(主分类) : H01L 21/00
专利号 : ZL2006100595493
登记生效日 : 20160720
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : LSI 公司
变更后权利人 : 安华高科技通用IP(新加坡)公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国加利福尼亚州
变更后权利人 : 新加坡新加坡市
号牌文件序号 : 101736997406
IPC(主分类) : H01L 21/00
专利号 : ZL2006100595493
登记生效日 : 20160720
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : LSI 公司
变更后权利人 : 安华高科技通用IP(新加坡)公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国加利福尼亚州
变更后权利人 : 新加坡新加坡市
2010-04-14 ：
授权
2008-04-23 ：
实质审查的生效
2006-10-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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