测量透镜的偏心的方法
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摘要
本发明提供了一种能够通过测量二维曲面形状来测量轴的偏心的测量方法。此方法包括：第一步骤，由探针从第一基准位置测量被检查表面的形状，其中该第一基准位置是从对象透镜的被检查表面上的预定位置分开预定量的位置；第二步骤，通过由探针从第二基准位置扫描被检查表面而测量被检查表面的形状，该第二基准位置是对象透镜旋转之后，在与第一步骤的扫描方向相反的路线中从所述预定位置分开预定量的位置；以及，通过使用在第一和第二步骤中获得的测量结果获得被检查表面的偏心量的步骤。
基本信息
专利标题 ：
测量透镜的偏心的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1834606A
申请号 ：
CN200610059699.4
公开（公告）日 ：
2006-09-20
申请日 ：
2006-03-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
村田安规
申请人 ：
佳能株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
王萍
优先权 ：
CN200610059699.4
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2010-08-18 ：
授权
2006-11-22 ：
实质审查的生效
2006-09-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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