六氟化硫气体密度继电器校验分析装置

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了六氟化硫气体密度继电器校验分析装置，包括电气主板、调节缸和密度继电器，其特征在于，所述装置进一步包括：上位计算机，与所述电气主板连接，用于采集和分析所述装置中电气主板上存储的温度、压力数值以及校验结果数据，也用于存储被校验密度继电器的额定参数；通信模块，连接在所述上位计算机与电气主板之间，用于选择、控制和建立电气主板与上位计算机或外部检测设备之间的通信通道。数据转换器，连接在所述通信模块和上位计算机之间，用于将电气主板经通信模块以及上位计算机或外部检测设备来的数据进行数据格式转换，有效进行传输。本实用新型将通过与密度继电器连接的采样导线采样并记录下此时的压力数值和温度数值，并结合被校验密度继电器的精度等级来考虑是否被校验的密度继电器动作时的密度值在所允许的精

基本信息

专利标题：

六氟化硫气体密度继电器校验分析装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620042680.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-06-12

授权号：

CN2906595Y

授权日：

2007-05-30

发明人：

周学生

申请人：

上海哈德电气技术有限公司

申请人地址：

200233上海市顾戴路2535弄99号3栋3层

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司

代理人：

陈亮

优先权：

CN200620042680.4

主分类号：

G01N9/00

IPC分类号：

G01N9/00