单孔径多重成像的光学成像测距装置
专利权的主动放弃
摘要

一种单孔径多重成像的光学成像测距装置,其特征在于构成:同光轴地依次包括成像主透镜、多重成像元件、场镜和光电探测器,该光电探测器的输出端接数字图像处理器,所述的成像主透镜与多重成像元件紧贴在一起,所述的数字图像处理器用于处理由光电探测器采样的数字图像,提取物体的深度信息的数据处理软件。本实用新型只需单次成像,即可获得完备的成像,而且系统结构紧凑,易于装配,不需要复杂的相机定位和标定,测距算法简单,可快速地获得物体的深度信息。

基本信息
专利标题 :
单孔径多重成像的光学成像测距装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620047908.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-11-17
授权号 :
CN201043890Y
授权日 :
2008-04-02
发明人 :
阳庆国刘立人栾竹刘德安孙建锋
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200620047908.9
主分类号 :
G01C3/00
IPC分类号 :
G01C3/00  G01C3/08  G02B27/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C3/00
视距测量;光学测距仪
法律状态
2009-09-16 :
专利权的主动放弃
2008-04-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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