数显测厚规

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种数显测厚规，包括尺架，尺架一端设置有显示部及活动测砧，所述活动测砧的一端位于显示部内并与读数检测机构配合，活动测砧另一端与尺架一端的固定测砧相对设置构成测量部分，其特征在于：还设置有第二固定测砧，所述第二固定测砧位于固定测砧与活动测砧之间，并与尺架活动连接，第二固定测砧的端部相对于活动测砧一侧的端面曲率大于被测管腔内壁待测位置处的曲率。本实用新型既可以测量物体的外径或外型厚度，也可以用于测量管壁厚度，拓宽了使用范围，提高了测量精度。

基本信息

专利标题：

数显测厚规

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620077875.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-09-25

授权号：

CN200947026Y

授权日：

2007-09-12

发明人：

沃林

申请人：

苏州英仕精密机械有限公司

申请人地址：

215011江苏省苏州市新区向阳路80号

代理机构：

苏州创元专利商标事务所有限公司

代理人：

陶海锋

优先权：

CN200620077875.2

主分类号：

G01B5/06

IPC分类号：

G01B5/06 G01B5/08