用于读取微阵列的设备
专利权的终止
摘要

本实用新型描述了用于获取探针阵列图像的系统的实施例,其包括:第一发光二极管,其提供激发光谱之外的光;第二发光二极管,其提供激发光谱之内的光;和检测器,其检测第一波长范围中的光,其中该第一波长范围包括:(a)响应于来自第二发光二极管的光从与设置在探针阵列上的一个或多个探针相关联的荧光分子发射的光;和(b)响应于来自第一发光二极管的光从设置在探针阵列上的一个或多个反射元件反射的光。

基本信息
专利标题 :
用于读取微阵列的设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620112568.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-04-24
授权号 :
CN201063023Y
授权日 :
2008-05-21
发明人 :
大卫·斯特恩
申请人 :
阿菲梅特里克斯公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 :
夏凯
优先权 :
CN200620112568.3
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N33/50  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2016-05-25 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101662506617
IPC(主分类) : G01N 21/64
专利号 : ZL2006201125683
申请日 : 20060424
授权公告日 : 20080521
终止日期 : 无
2008-05-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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