一种调整X射线管位置的机械结构
专利权的终止
摘要

本实用新型所述的一种调整X射线管位置的机械结构,包括设备壳体和安装于设备壳体之内的具有金属外壳的X射线管、升降轴、升降支架、升降电机、俯仰支架和俯仰电机,本实用新型所述一种调整X射线管位置的机械结构的优点在于:由于所选择的旋转调节轴方向穿过X射线管靶面中心点(从铍窗射出的X射线的理论出发点),一方面此位置非常接近X射线管的重心位置,升降支架基本上受到正压力,所受弯矩很小,因此基本上不会产生弯曲变形使垂直运动增加阻力,机构功能更可靠;另一方面,由于X射线管射出的X射线角度存在理论值,通过光路计算可推算出较为接近理论的X射线出射方向,方便预先设置调整的初始位置给调光带来方便,提高效率最终实现光路的要求。

基本信息
专利标题 :
一种调整X射线管位置的机械结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620131714.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-08-23
授权号 :
CN2938083Y
授权日 :
2007-08-22
发明人 :
田宇纮商颖健
申请人 :
北京普析通用仪器有限责任公司
申请人地址 :
100081北京市海淀区中关村南大街甲8号威地科技大厦
代理机构 :
北京市合德专利事务所
代理人 :
王文会
优先权 :
CN200620131714.7
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  H05G1/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2016-09-28 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101680711155
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2006201317147
申请日 : 20060823
授权公告日 : 20070822
终止日期 : 无
2007-08-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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