基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要
本实用新型涉及一种杂光系数测试系统，尤其是一种基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统。其技术解决方案为：该系统包括激光器、大口径平行光管、计算机全息光学元件和可测量光照度的照度计，所述激光器、大口径平行光管、计算机全息光学元件依序设置在同一光路上。解决了普通技术中存在的测试负载、实现难度大的技术问题。
基本信息
专利标题 ：
基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620136104.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-11-07
授权号 ：
CN200965488Y
授权日 ：
2007-10-24
发明人 ：
马臻樊学武陈荣利李英才
申请人 ：
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 ：
710068陕西省西安市友谊西路234号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
商宇科
优先权 ：
CN200620136104.6
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2010-03-03 ：
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 20100203
2007-10-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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