杂光检测设备

授权

摘要

本实用新型提供了一种杂光检测设备。杂光检测设备包括机构系统，机构系统包括机架主体和检测机构，检测机构位于机架主体内，检测机构包括：光源机构，光源机构包括光源和第一旋转组件，光源位于第一旋转组件上，第一旋转组件以第一轴Y为转轴做旋转运动；镜头承放机构，第一旋转组件带动光源绕镜头承放机构做旋转运动，镜头承放机构包括第二旋转组件，光学镜头放置在第二旋转组件上，第二旋转组件以第二轴Z为转轴做旋转运动，第一轴Y与第二轴Z不同轴；检测芯片，检测芯片位于镜头承放机构的下方，对光学镜头进行杂光检测。本实用新型解决了现有技术中杂光检测设备存在不能实现全角度的杂光检测的问题。

基本信息

专利标题：

杂光检测设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921289640.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-09

授权号：

CN210802856U

授权日：

2020-06-19

发明人：

杨俊成郭军华黄浩滨叶小伟沈科良

申请人：

浙江舜宇光学有限公司

申请人地址：

浙江省宁波市余姚市舜宇路66-68号

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司

代理人：

刘娜

优先权：

CN201921289640.3

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02 F21V14/02