杂光测试仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种杂光测试仪，包括积分球光源组件、被测物镜、光电接收器组件、检流计，所述积分球光源组件的尾部设置黑靶或者白靶，所述积分球光源组件内形成均匀的光亮背景用于对黑靶或者白靶成像，所述黑靶或者白靶的成像通过被测物镜被光电接收器组件接收，所述检流计光电接收器组件连接用于记录光电接收器组件的光电流数值。本实用新型在暗室内分别通过位于积分球光源组件尾部的黑靶和白靶的成像，结合两次成像的光电流值之比的百分数确定杂光系数。
基本信息
专利标题 ：
杂光测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021061353.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-09
授权号 ：
CN212843968U
授权日 ：
2021-03-30
发明人 ：
杨黎张文卓于莉陈东刘平李少锋韩华峰
申请人 ：
西安科峰光电科技有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市西咸新区沣西新城西部云谷二期1号楼10层1004室
代理机构 ：
西安志帆知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
侯峰
优先权 ：
CN202021061353.X
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2021-03-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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