一种杂光测试装置
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种杂光测试装置,该杂光测试装置包括积分球,光源,目标板,准直物镜,可变光栏,探测器,调整架,四维移动机构;积分球上的可变光栏一侧安装准直物镜,并且积分球内的目标板、准直物镜、可变光栏、被测光学系统和探测器在同一光轴上顺序放置。积分球漫反射的发散光经过准直物镜转换成平行光束后,再经可变光栏调节光束孔径后照射到被测光学系统,可对任意焦距的有限远物距和无限远物距光学系统进行杂光测试。

基本信息
专利标题 :
一种杂光测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820071665.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-04-10
授权号 :
CN201173854Y
授权日 :
2008-12-31
发明人 :
谷立山王立朋张晓辉
申请人 :
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 :
130012吉林省长春市东南湖大路16号
代理机构 :
长春菁华专利商标代理事务所
代理人 :
赵炳仁
优先权 :
CN200820071665.1
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  G01M11/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2011-06-15 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101079124673
IPC(主分类) : G01M 11/02
专利号 : ZL2008200716651
申请日 : 20080410
授权公告日 : 20081231
终止日期 : 20100410
2008-12-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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