日冕仪散杂光测试装置及测试方法

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摘要

本发明提出一种日冕仪散杂光测试装置和测试方法。测试装置包括：激光器、第一光纤耦合器、保偏光纤、光纤环形器、扩束镜、第二光纤耦合器、分光镜及示波器等装置。通过上述光学部件构建入射光路和回馈光路。基于入射光路和回馈光路的光强度、幅值等信息，可完成日冕仪散杂光的检测。具体方法包括日冕仪散杂光测试方法及外掩体衍射光测试方法；进行日冕仪总杂散杂光测试时，将第二光纤耦合器设置在日冕仪探测器位置；进行外掩体边缘衍射光测试时，将第二光纤耦合器设置在日冕仪内掩体位置；根据示波器的测量结果判定日冕仪杂散光水平。该装置和方法可以实现对外掩式日冕仪不同来源的微弱杂散光信号的高灵敏检测。

基本信息

专利标题：

日冕仪散杂光测试装置及测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113188769A

申请号：

CN202110467765.6

公开（公告）日：

2021-07-30

申请日：

2021-04-28

授权号：

CN113188769B

授权日：

2022-06-10

发明人：

刘维新夏利东左修辉孙明哲唐宁

申请人：

山东大学

申请人地址：

山东省威海市文化西路180号

代理机构：

青岛清泰联信知识产权代理有限公司

代理人：

张媛媛

优先权：

CN202110467765.6

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02